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ELECTRONICA激光掃描儀Q6-B

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產(chǎn)品型號Q6-B

品       牌

廠商性質(zhì)0

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更新時間：2024-05-07 11:33:52瀏覽次數(shù)：225次

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產(chǎn)品簡介

產(chǎn)品介紹QuellTech激光掃描儀利用三角測量原理來檢測表面的二維輪廓

詳細介紹

產(chǎn)品介紹

QuellTech 激光掃描儀利用三角測量原理來檢測表面的二維輪廓。通過特定的光學(xué)組件，點狀激光束被擴展為一條線并投射到感興趣的對象上。反射激光線的漫射光被物鏡以一定角度捕獲，然后導(dǎo)向二維接收芯片。

根據(jù)已知的距離和角度，為 x 水平（激光線）中的每個像素計算準確的校準高度值 (z)，從而在樣本的 x-z 平面中產(chǎn)生準確的輪廓。如果掃描儀在樣品（y 軸）上引導(dǎo)，則會創(chuàng)建一系列輪廓，在空間中形成三維點云。 該點云可以通過軟件進行尺寸控制。

性能特點
  • 分辨率低至24 µm
  • 用于非常有光澤的材料的特殊算法
  • 不同的高動態(tài)范圍 (HDR) - 反射率差異很大的物體的模式
  • 反射率差異很大的物體的多斜率模式
  • 不同的觸發(fā)方式，2個觸發(fā)輸入（編碼器輸入RS422）
  • 在芯片上設(shè)置多個測量窗口
  • 自動跟蹤測量窗口
  • 多掃描儀應(yīng)用的主從配置
  • 存儲在激光掃描儀中的用戶配置
  • 在制造商現(xiàn)場單獨進行極其準確的校準
  • 帶防護系統(tǒng) IP67 的外殼
  • *GenICam 和 GigEVision 接口標準，用于連接已知的圖像處理軟件工具
  • 軟件開發(fā)工具包
  • 圖像處理軟件
技術(shù)參數(shù)

掃描儀類型：50-178

Z范圍： 50 mm

X 起點范圍：165 mm

X 中間范圍（標稱）：178 mm

X 端范圍：190 mm

距離Z- 起點范圍：123 mm

工作距離Z-中間范圍：148 mm

X分辨率：86.91μm

Z分辨率：2.13μm

產(chǎn)品應(yīng)用

錫膏用量監(jiān)督

連接器的銷直線度測量

表面凸度測量

間隙測量和控制

尺寸穩(wěn)定性的在線檢測

食物分份

鐵路用鋼軌型材檢驗

飛機襟翼和副翼的角度設(shè)置

印刷電路的檢查

產(chǎn)品參數(shù)

關(guān)鍵詞：芯片

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