上海昊量光電設(shè)備有限公司
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詳細(xì)摘要： 激光振動(dòng)傳感器集成化/一體化光學(xué)技術(shù)昊量光電全新推出的激光振動(dòng)傳感器光學(xué)元件集成化可以實(shí)現(xiàn)更加復(fù)雜的設(shè)計(jì)和更多的功能
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： Mprobe20單點(diǎn)薄膜測(cè)量?jī)xMProbe20是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測(cè)量系統(tǒng)，只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)就可進(jìn)行薄膜厚度和折射率測(cè)量，測(cè)量厚度范圍1nm-1mm
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詳細(xì)摘要： 手持式膜厚測(cè)量?jī)x-MProbe20HC（彎曲表面）手持式膜厚測(cè)量?jī)x-MProbe20HC（彎曲表面）基于MProbe20平臺(tái)可以輕松測(cè)量曲面和大型零件的薄膜厚度...
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詳細(xì)摘要： 微小區(qū)域薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE40MSPMProbe40測(cè)量薄膜厚度和折射率單擊鼠標(biāo)在小地方
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詳細(xì)摘要： 美國(guó)Semisonsoft膜厚測(cè)量?jī)xMProbe-MAKINGTHINFILMSTHICKNESSMEASUREMENTEASY美國(guó)Semisonsoft公司M...
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詳細(xì)摘要： MPROBE50INSITU–實(shí)時(shí)薄膜厚度測(cè)量?jī)x原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE50INSITU用于測(cè)量薄膜厚度和n原位薄膜厚度測(cè)量?jī)x-MPROBE50INSI...
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詳細(xì)摘要： 薄膜厚度均勻度測(cè)量系統(tǒng)-MPROBE60（精確定位測(cè)量）MProbe60是一站式系統(tǒng)，專為研發(fā)中心和小型制造而設(shè)計(jì)
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詳細(xì)摘要： 薄膜無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)，半導(dǎo)體無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)l產(chǎn)品特點(diǎn)系統(tǒng)使用獲得zuanli的光聲技術(shù)設(shè)計(jì)無(wú)損測(cè)量系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： 在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE70在線薄膜厚度實(shí)時(shí)測(cè)量?jī)x-MPROBE70是一種高性能厚度測(cè)量系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： Xper-IP激光干涉膜厚測(cè)量?jī)xXper-IP是基于公司的光譜干涉技術(shù)的一款激光干涉膜厚儀，是一種非接觸式、無(wú)損的、且快速的光學(xué)薄膜厚度測(cè)量設(shè)備
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詳細(xì)摘要： KALEO測(cè)量工作站【KALEOMTF簡(jiǎn)介】KaleoMTF測(cè)量?jī)x結(jié)合了與傳函儀的功能，是檢測(cè)鏡片組、鏡頭和光學(xué)系統(tǒng)性能的工具，可適用于鏡頭設(shè)計(jì)、原型制作或生產(chǎn)...
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詳細(xì)摘要： KALEO多波長(zhǎng)激光模塊【KALEO多波長(zhǎng)激光干涉儀模塊簡(jiǎn)介】Kaleo多波長(zhǎng)激光干涉儀是用于光學(xué)計(jì)量的模塊化系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： KALEOIR系列紅外光學(xué)測(cè)試臺(tái)【KALEOIR套件簡(jiǎn)介】KaleoIR系列紅外光學(xué)測(cè)試臺(tái)使紅外鏡頭的質(zhì)量監(jiān)控變得快速有效，只需單次圖像采集即可獲得全部空間頻率...
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詳細(xì)摘要： 高精度測(cè)量?jī)x便攜式、高精度光學(xué)傳遞函數(shù)（MTF）測(cè)量?jī)x！法國(guó)公司高精度MTF測(cè)量?jī)x可以提供全面的鏡頭測(cè)試：軸上MTF
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詳細(xì)摘要： 光腔衰蕩光譜方法（CRDS，CavityRing-DownSpectroscopy）是一種基于高精細(xì)度諧振腔的高靈敏度探測(cè)技術(shù)，主要用于測(cè)量各種反射率大于99%...
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詳細(xì)摘要： 角分辨散射儀昊量光電新推出用于準(zhǔn)確測(cè)量材料散射特征的角分辨散射儀，為高質(zhì)量光學(xué)產(chǎn)品的生產(chǎn)提供有力保障
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-13 在線留言
詳細(xì)摘要： 圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKOCD)圓二色譜儀-高通量對(duì)映體過(guò)量測(cè)量（ee）儀(EKKOCD)，是手性分析/催化劑手性測(cè)量常用的技術(shù)，是指...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-06 在線留言
詳細(xì)摘要： MD激光測(cè)距傳感器（距離測(cè)量）MD激光測(cè)距傳感器系列只對(duì)自身發(fā)出的光源敏感，因此不受外界環(huán)境光等干擾
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-06 在線留言
詳細(xì)摘要： 非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測(cè)量的非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)xEddyCusTFSeries，這款金屬膜厚測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 微型超聲/超聲振動(dòng)傳感器針對(duì)超聲領(lǐng)域應(yīng)用需求，昊量光電全新推出了一套完整的臺(tái)架式超聲儀
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：更新時(shí)間：2024-02-02 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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