蘇州浪聲科學(xué)儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第2年

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浪聲SuperSEM桌面式掃描電鏡在陶瓷材料研究中的創(chuàng)新應(yīng)用

時(shí)間:2025/3/28閱讀:64
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  陶瓷材料因其優(yōu)異的力學(xué)性能、耐高溫性、化學(xué)穩(wěn)定性及電學(xué)、光學(xué)特性,被廣泛應(yīng)用于航空航天、電子器件、生物醫(yī)學(xué)和能源等領(lǐng)域。然而,陶瓷材料的微觀結(jié)構(gòu)、元素分布及缺陷分析對(duì)表征技術(shù)提出了高要求。浪聲科學(xué)儀器推出的SuperSEM N10eX桌面式多功能實(shí)時(shí)能譜掃描電鏡,憑借其高分辨率成像、實(shí)時(shí)能譜分析、快速掃描及智能化操作等優(yōu)勢(shì),為陶瓷材料的微觀表征提供了高效、精準(zhǔn)的解決方案。
 
  SuperSEM N10eX的核心技術(shù)優(yōu)勢(shì)
 
  SuperSEM N10eX集掃描電子顯微鏡(SEM)能譜分析(EDS)于一體,并具備多項(xiàng)創(chuàng)新技術(shù),使其在陶瓷材料研究中展現(xiàn)出性能:
 
  實(shí)時(shí)能譜偽彩成像
 
  傳統(tǒng)SEM僅能提供形貌信息,而SuperSEM通過(guò)EDS實(shí)時(shí)捕獲特征X射線,生成元素分布偽彩圖,直觀展示陶瓷材料中的元素分布(如Al?O?中的Al、O,或ZrO?中的Zr),幫助研究者快速識(shí)別相組成、摻雜元素分布及雜質(zhì)定位。
 
  高速掃描與視頻模式
 
  搭載10M信號(hào)采集寬帶,可在視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品動(dòng)態(tài)變化(如陶瓷燒結(jié)過(guò)程中的表面演變),避免傳統(tǒng)SEM的延遲問(wèn)題,特別適用于陶瓷斷裂行為、高溫相變等研究。
 
  高靈敏度背散射電子(BSE)成像
 
  采用四分割BSE探測(cè)器,可同時(shí)獲取成分對(duì)比度信息,清晰區(qū)分陶瓷中的不同相(如SiC中的Si與C,或氧化鋯中的晶界偏析)。
 
  低真空模式與荷電抑制
 
  陶瓷材料多為非導(dǎo)電體,傳統(tǒng)SEM易因荷電效應(yīng)導(dǎo)致圖像失真。SuperSEM支持低真空模式低電壓成像,有效抑制荷電效應(yīng),確保高分辨率成像。
 
  智能化一鍵操作
 
  軟件集成自動(dòng)聚焦、像散校正、全景拼接等功能,即使是多孔陶瓷或粗糙表面,也能快速獲得清晰圖像,大幅提升分析效率。
 
  SuperSEM在陶瓷材料研究中的典型應(yīng)用
 
  1. 微觀結(jié)構(gòu)與缺陷分析
 
  晶粒與晶界觀測(cè):SuperSEM的高分辨率成像可清晰顯示陶瓷的晶粒尺寸、形貌及晶界分布(如Al?O?的等軸晶或Si?N?的柱狀晶),結(jié)合BSE成像可識(shí)別晶界相(如Y?O?摻雜的氧化鋯)。
 
  氣孔與裂紋檢測(cè):通過(guò)二次電子(SE)成像,可量化陶瓷燒結(jié)體的氣孔率、裂紋擴(kuò)展路徑,為優(yōu)化燒結(jié)工藝提供依據(jù)。
 
  2. 元素分布與相組成分析
 
  摻雜與均勻性評(píng)估:利用EDS偽彩成像,可直觀顯示摻雜元素(如CeO?-ZrO?中的Ce分布)或第二相(如Al?O?-TiC復(fù)合材料中的TiC顆粒),評(píng)估燒結(jié)均勻性。
 
  界面擴(kuò)散研究:例如在多層陶瓷電容器(MLCC)中,通過(guò)線掃描或面掃描分析BaTiO?與電極材料的界面元素互擴(kuò)散行為。
 
  3. 功能陶瓷性能優(yōu)化
 
  壓電/鐵電陶瓷:觀察PZT(鋯鈦酸鉛)陶瓷的疇結(jié)構(gòu),結(jié)合EDS分析Pb、Zr、Ti的化學(xué)計(jì)量比偏差。
 
  透明陶瓷:如YAG(釔鋁石榴石)激光陶瓷,通過(guò)高分辨成像檢測(cè)雜質(zhì)或散射中心,優(yōu)化光學(xué)性能。
 
  4. 生物陶瓷與涂層表征
 
  羥基磷灰石(HA):分析生物陶瓷的孔隙結(jié)構(gòu)與Ca/P比,確保其仿生性能。
 
  熱障涂層(TBCs):檢測(cè)YSZ(氧化釔穩(wěn)定氧化鋯)涂層的柱狀晶結(jié)構(gòu)及元素分布,評(píng)估抗熱震性。
 
  案例展示:SuperSEM助力氧化鋁陶瓷工藝改進(jìn)
 
  某研究團(tuán)隊(duì)利用SuperSEM N10eX對(duì)Al?O?陶瓷燒結(jié)體進(jìn)行分析:
 
  形貌觀察:SE成像顯示燒結(jié)不足導(dǎo)致的異常晶粒生長(zhǎng)(圖1a)。
 
  元素映射:EDS偽彩圖發(fā)現(xiàn)Si雜質(zhì)集中于晶界(圖1b),推測(cè)為燒結(jié)助劑分布不均。
 
  工藝優(yōu)化:調(diào)整燒結(jié)溫度與保溫時(shí)間后,陶瓷致密度提高15%,力學(xué)性能顯著改善。
 
  浪聲SuperSEM N10eX憑借實(shí)時(shí)能譜成像、高速掃描、多信號(hào)協(xié)同探測(cè)等優(yōu)勢(shì),為陶瓷材料的微觀結(jié)構(gòu)解析、成分分析、工藝優(yōu)化提供了強(qiáng)大工具。其桌面式設(shè)計(jì)、智能化操作降低了使用門(mén)檻,使科研人員與工業(yè)用戶能夠高效獲取精準(zhǔn)數(shù)據(jù),推動(dòng)陶瓷材料從基礎(chǔ)研究到產(chǎn)業(yè)應(yīng)用的快速發(fā)展。
 

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