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Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡

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產(chǎn)品簡介

Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡，肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時(shí)間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與3View2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通過對獲得的圖像進(jìn)行三維重構(gòu)，可以對精細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維分析。

詳細(xì)介紹

Serial Block-face SEM 3View 發(fā)射掃描電子顯微鏡

肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時(shí)間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與View®2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通過對獲得的圖像進(jìn)行三維重構(gòu)，可以對精細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維分析。

產(chǎn)品規(guī)格：

產(chǎn)品特點(diǎn)：

· 肖特基場發(fā)射掃描電子顯微鏡能長時(shí)間穩(wěn)定地提供高電流下的微細(xì)探針，與3View®2XP（Gatan公司制造）結(jié)合使用，能對樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通過對獲得的圖像進(jìn)行三維重構(gòu)，可以對精細(xì)結(jié)構(gòu)進(jìn)行三維分析。

· 系統(tǒng)簡介

· JSM-7100F、7800F和3View®2XP（Gatan產(chǎn)品）組合使用，能獲得大量的大范圍的切片圖像。這樣就能夠進(jìn)行數(shù)百微米區(qū)域的三維重構(gòu)。通過三維重構(gòu)能夠觀察二維圖像上無法看到的細(xì)胞的深處結(jié)構(gòu)。

。外觀：