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全波段透過率測試儀

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產(chǎn)品型號TMS-系列

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更新時間：2024-02-09 10:50:23瀏覽次數(shù)：139次

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產(chǎn)品簡介

TMS

詳細介紹

TMS是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準(zhǔn)確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率，可用于實時在線檢測，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡、鍍膜鏡、膠合鏡、平行平板、太陽膜、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。

TMS透過率檢測儀-技術(shù)參數(shù)

型號	TMS（I型）	TMS（Ⅲ型）
探測器	Sony線形CCD 陣列	Hamamatsu背照式2D-CCD
檢測范圍	380-1000nm	360-1100nm
波長分辨率	1nm	1nm
信噪比（全信號）	250：1	1000：1
相對檢測誤差	﹤0.5%（400-800nm）	﹤0.2%（400-800nm）
單次測量時間	﹤1s
樣品尺寸	≥ Φ1mm
操作系統(tǒng)/接口	Windows XP, Windows Vista/ USB2.0
電源/功率	220V-50HZ /6W

TMS透過率檢測儀-的軟件設(shè)計

l 智能化軟件操作:可自定義測量方式和角度，實時顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù)，自動調(diào)整顯示坐標(biāo)范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析。

l 譜圖管理:可同時記錄多達20個樣品譜圖，批量保存測量結(jié)果，記錄譜圖測試積分時間，能對譜圖進行更名、定義顏色、選擇是否顯示、加粗等操作，地方便了譜圖的管理和分析。

l 自定義測量方案:用戶可以自行定義測量的方案，同時設(shè)置判定標(biāo)準(zhǔn)，使檢測更快速，結(jié)果更準(zhǔn)確。

l 譜圖數(shù)據(jù)處理功能:備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果，用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進行添加、修改和刪除，還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究。

l CIE顏色測量功能:可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù)， x，y，L,a,b,飽和度，主波長等。

l 數(shù)據(jù)報告打印功能:可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測量報告出具單位名稱。